МОДЕЛЬ 180 Комплект для подготовки образцов XTEM

Брошюры с информацией

Расширенное описание

Комплект для подготовки образцов XTEM

МОДЕЛЬ 180

Для изучения интерфейсов с помощью трансмиссионной электронной микроскопии (ТЕМ) крайне важно выровнять интересующий интерфейс параллельно падающему электронному пучку. Один из методов подготовки таких образцов — изготовление поперечных срезов (XTEM). Широко используемыми образцами для поперечных срезов являются полупроводниковые устройства (которые часто имеют несколько слоёв и, соответственно, несколько интерфейсов), образцы с тонкоплёночными слоями и композитные материалы.

• Формирует и удерживает образцы поперечного среза
• Выравнивает интересующие области и интерфейс
• Обеспечивает равномерную толщину клеевого слоя
• Полученные стеки легко разрезаются ультразвуковым резаком для дисков Fischione Model 170
• Позволяет изготовить самонесущие дисковые образцы диаметром 3 мм

Изготовление высококачественных поперечных срезов

Комплект для подготовки XTEM Model 180 позволяет получать контролируемые поперечные срезы для трансмиссионной электронной микроскопии (XTEM), используя прямоугольные пластины, вырезанные из интересующей области исходного материала. Эти пластины легко разрезаются ультразвуковым резаком для дисков Fischione Model 170.

Комплект XTEM Prep Kit облегчает процесс формирования и склеивания этих пластин. Между каждой пластиной помещается небольшое количество вакуумостойкого эпоксидного клея. Пластины затем удерживаются в тисках для обеспечения равномерной толщины клеевого слоя.

После отверждения эпоксидной смолы стек из пластин вырезается с помощью ультразвукового резака. Полученный штырь помещается в латунные трубки для последующего нарезания на самонесущие дисковые образцы диаметром 3 мм.

Секционируя образец и склеивая несколько слоёв, каждый из которых содержит интересующий интерфейс, можно получить значительное количество информации из одного образца.

Входящие компоненты комплекта

• Набор тисков с пружинным механизмом
• Набор монтажной пластины
• Режущий инструмент из титана диаметром 2,3 мм
• Режущий инструмент из титана 4 × 5 мм
• Держатель срезов 2 × 3 мм
• Держатель срезов 4 × 5 мм
• Миска для смешивания
• Форма из ПТФЭ (политетрафторэтилен)
• Клейкие стержни
• Латунные трубки

Образец XTEM, состоящий из многослойной структуры Co/Ru и буферного слоя Ru, осажденного методом CVD на подложку из сапфира. Ионная обработка проводилась при напряжении 4 кВ, токе 4 мА и угле падения ионного пучка 7°.
Изображение предоставлено K. Hono и D.H. Ping, Национальный институт материаловедения, Япония.